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    金屬覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜國(guó)標(biāo)
    2013/7/10 [7338]

    常規(guī)的X射線測(cè)厚儀比如德國(guó)菲希爾的FISCHERSCOPE X-RAY XULM,是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結(jié)構(gòu)緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無(wú)損測(cè)量細(xì)小零部件上的鍍層厚度和成分分析。為了使每次測(cè)量都能在*的條件下進(jìn)行,XULM配備了可電動(dòng)調(diào)整的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。 比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法,無(wú)論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測(cè)量。可測(cè)量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。

    XULMX射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

    本款儀器特別適合用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

    典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

    微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測(cè)量

    印制線路板上手動(dòng)測(cè)量

    珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量及成分分析 

    設(shè)計(jì)理念

    FISCHERSCOPE X-RAY XULM設(shè)計(jì)為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器系列。根據(jù)使用用途,有以下兩種不同版本型號(hào),分別對(duì)應(yīng)不同樣品平臺(tái):

    XULM 固定平面平臺(tái)

    XULM XYm 手動(dòng)X/Y平臺(tái)

    高分辨的彩色攝像頭配以強(qiáng)大的放大功能,可以定位測(cè)量位置。

    盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊,但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測(cè)量室,從而可以測(cè)量更大體積的樣品。

    外罩底部留下了空隙,可方便地測(cè)量超出測(cè)量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。

    通過(guò)強(qiáng)大且界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測(cè)量過(guò)程,包括測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。

    XULM型光譜儀是型式許可符合德國(guó)”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的,有完善防護(hù)措施的測(cè)量?jī)x器。

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